一、簡介
FT-NMT04是一個多功能的原位SEM/FIB納米力學測試系統(tǒng)，能夠準確地量化材料在微米和納米尺度上的力學行為。作為基于MEMS傳感器的納米壓痕，F(xiàn)T-NMT04是基于FemtoTools微機電系統(tǒng)（MEMS）技術。利用二十多年的技術創(chuàng)新，這種原位納米壓痕具有超高的分辨率、可重復性和動態(tài)響應。
FT-NMT04為金屬、陶瓷、薄膜以及超材料和MEMS等微結(jié)構(gòu)的力學測試而優(yōu)化。此外，通過使用各種附件，F(xiàn)T-NMT04的力學測試能力可以擴展到各個研究領域的多功能要求。
二、 功能
功能特點：
納米壓痕、壓縮、拉伸、斷裂和疲勞測試
基于MEMS的傳感技術實現(xiàn)了超高的分辨率和重復性，力從0.5 nN到200 mN，位移從0.05 nm到21 mm。
能夠進行連續(xù)剛度測量（CSM）或高達500Hz的疲勞測試，而不需要復雜的動態(tài)校準
真正的位移控制測試，使快速應力下降的量化成為可能（也可以選擇基于力反饋的力控制測量）。
3或4軸（x、y、z、旋轉(zhuǎn)），閉環(huán)傳感器，使用所有軸上的位置編碼器對準樣品
高溫測試，可高達800°C
能夠?qū)悠芬来螌始{米壓頭、電子束和EBSD檢測器，以評估特定晶粒和位置的硬度（僅適用于4軸配置）。
簡單確定壓頭面積函數(shù)和框架順應性
強大的數(shù)據(jù)分析工具來評估測量結(jié)果，并應用配合或函數(shù)來計算材料屬性
SEM樣品臺支架使系統(tǒng)能在SEM腔內(nèi)快速安裝和拆卸
緊湊的模塊化設計使其能夠集成到幾乎所有的SEM中
可定制的測量程序和原理
技術參數(shù)：
力傳感器
- Max：200 mN
- 本底噪聲：0.5 nN（在10 Hz）。
- 測量頻率可達96 kHz
位移傳感（粗略的）
- 位移范圍：21毫米
- 位移本底噪聲：1 nm (在10 Hz)
- 測量頻率：50 Hz
位移傳感（精細）
- 位移范圍：25 μm
- 位移本底噪聲：0.05 nm (10 Hz時)
- 測量頻率可達96 kHz
3軸和4軸力傳感器對準樣品
- X、Y、Z閉環(huán)定位范圍：21mm x 12mm x 12 mm
- X、Y、Z閉環(huán)定位本底噪聲：1納米
- 樣品旋轉(zhuǎn)范圍： 360°
三、 應用
典型的應用包括通過微柱壓縮測試或狗骨試樣拉伸測試、薄膜或納米線來量化塑性變形機制。此外，在壓縮測試中的連續(xù)剛度測量可以量化微梁斷裂測試中的裂紋生長和斷裂韌性。由于FT-NMT04具有低本底噪音（500pN和50pm），F(xiàn)T-NMT04可以實現(xiàn)可重復性的低位移納米壓痕，以及與EBSD圖譜好的關聯(lián)性。
