測鍍層X熒光光譜儀 規(guī)格：
1.元素分析范圍:硫-鈾（S-U）
2.元素含量分析范圍：1PPM~99.99%
3.zui低檢出限：1PPM
4.鍍層檢驗厚度：0.005-50μm（視材料類型而有所不同）
5.樣品腔尺寸：150*120*50（MM)
測鍍層X熒光光譜儀 應用領域：
鍍層成分分析
鍍層厚度分析
鍍層環(huán)保檢測
上海奧析科學儀器有限公司是集開發(fā)、研制、生產(chǎn)、經(jīng)營各種分析儀器及實驗室相關設備為一體，以實驗產(chǎn)品為核心的專業(yè)性技術企業(yè)。在經(jīng)營自主品牌產(chǎn)品之外，本公司還和國內(nèi)外多家企業(yè)合作。
上海奧析科學儀器有限公司主要產(chǎn)品有分光光度計、原子吸收、液相色譜儀、氣相色譜儀、純水機、天平、超聲波等各類型儀器。廣泛應用于大專院校、科研機構、石油、化工、食品、輕工、污水處理、環(huán)境檢測等行業(yè)。
本公司始終追求品質(zhì)和盡善盡美的服務，不斷加強與國內(nèi)外專家的交流與合作，公司中擁有一批具有高級技術職稱的專家做指導，擁有從事各類實驗方案的專家和專業(yè)人才。公司擁有一批致力分析儀器開發(fā)、研制、生產(chǎn)十多年的團隊。他們會為客戶提供專業(yè)實驗方案及技術咨詢、設計、改裝和升級。提供Z佳解決方案等技術服務，保障專業(yè)完善的售前、售中、售后服務。
公司經(jīng)營理念：同樣的質(zhì)量看服務，同樣的服務看價格。
光譜儀器
