臺(tái)式微區(qū)X射線熒光光譜儀M1 MISTRAL

臺(tái)式微區(qū)X射線熒光光譜儀

用于大件樣品與鍍層樣品的無損分析

無需任何準(zhǔn)備即可分析任何形狀的樣品

M1 MISTRAL是采用X射線熒光技術(shù)的光譜儀，可對(duì)大件樣品盒鍍層樣品進(jìn)行準(zhǔn)確的分析。分析的元素范圍：原子序數(shù)Z=22（鈦）以上的所有元素。因此，它可以分析的物質(zhì)范圍較廣，譬如金屬、合金、金屬鍍層，包括多層鍍層樣品。

樣品尺寸zui大可達(dá)100x100x100mm，無需任何處理，直接放在樣品臺(tái)上檢測(cè)。

光管位于樣品上方，測(cè)量過程中不接觸樣品，因此可以很容易地分析復(fù)式樣的樣品，如精工細(xì)作的珠寶或者不同厚度的樣品。

可以精確測(cè)量用戶的所需的位置

M1 MISTRAL的微焦斑X射線光管，即使光斑小到100μm也可以產(chǎn)生足夠的射線強(qiáng)度，光斑大小取決于所使用的準(zhǔn)直器。

采用視頻顯微鏡進(jìn)行準(zhǔn)確定位，可以測(cè)量任何想測(cè)的位置?？蛇x的計(jì)算機(jī)控制的自動(dòng)樣品臺(tái)，并自動(dòng)聚焦。

超快檢測(cè)系統(tǒng)，迅速產(chǎn)生結(jié)果

M1 MISTRAL可配有兩種不同的X射線探測(cè)器：大面積充氣正比計(jì)數(shù)器，可用于質(zhì)量控制中的標(biāo)準(zhǔn)應(yīng)用；或者配置硅漂移探測(cè)器，具有超快的檢測(cè)速度盒非常好的能量分辨率，檢出限可以達(dá)到0.01%（重量比）。*的探測(cè)器，數(shù)字脈沖處理器及優(yōu)化的幾何結(jié)構(gòu)，確保了X射線探測(cè)的zui大效率，能夠快速地得到準(zhǔn)確的分析結(jié)果。

易使用，免維護(hù)

M1 MISTRAL及XSpect軟件的設(shè)計(jì)，讓操作人員只需經(jīng)過簡(jiǎn)單的培訓(xùn)即可使用。

僅一個(gè)電源接口就可以運(yùn)行儀器，采用空氣冷卻，無需消耗品。緊固的結(jié)構(gòu)確保zui高的穩(wěn)定性，并*免維護(hù)。

珠寶及合金分析

M1 MISTRAL是珠寶、硬幣及貴金屬的理想分析工具。所有珠寶合金、鉑族金屬及銀制品，不到1分鐘就可以確定其準(zhǔn)確成分。分析結(jié)果可以用百分比或K(克拉)表示

測(cè)量RoHS檢測(cè)要求

高性能的M1 MISTRAL也可以測(cè)量RoHS指令限定的輕基體的痕量元素。直接控制電氣產(chǎn)品中有害元素的濃度。

測(cè)量鍍層樣品

采用X射線熒光技術(shù)的M1 MISTRAL可以分析薄鍍層樣品，如印刷電路板、金屬或塑料件，包括單層鍍層和多層多層。XSpect軟件采用無標(biāo)樣基本參數(shù)法，可以同時(shí)計(jì)算鍍層厚度和鍍層組成。使用標(biāo)準(zhǔn)樣品可以進(jìn)一步提高定量分析的準(zhǔn)確性。

部分應(yīng)用簡(jiǎn)介

M1 MISTRAL的應(yīng)用領(lǐng)域很廣，我們選擇3個(gè)常見的例子進(jìn)行簡(jiǎn)要介紹。

珠寶檢測(cè)

• 黃金
• 白金
• 鉑（Pt）合金
• 銀（Ag）合金
• 精度：優(yōu)于0.2wt%

可分析的多層鍍膜樣品

可以測(cè)定鍍層樣品的鍍層厚度及成分，例如：

• Zn-Fe
• Au-Ni-Cu
• Au-Pd-Ni-Fe
• CuSn-Ni-Cu
• Au-Pd-Ni-Cu

XSpect分析軟件

XSpect軟件具有以下功能：

• 儀器控制，數(shù)據(jù)采集與處理
• 譜峰識(shí)別
• 定量分析，采用無標(biāo)樣法和基于標(biāo)樣的經(jīng)驗(yàn)系數(shù)法
• 鍍層樣品分析，可分析鍍層厚度和成分
• 采用基本參數(shù)法編輯特定鍍層的分析方法
• 報(bào)告輸出