BRUKER Dektak150表面輪廓儀

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更新時(shí)間：2023-04-01 15:23:14瀏覽次數(shù)：407次

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上海人和科學(xué)儀器有限公司

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產(chǎn)品簡(jiǎn)介

Dektak150型是Veeco公司2007年正式推出的型探針式表面輪廓儀產(chǎn)品，主要應(yīng)用于薄膜厚度測(cè)量、樣品表面形貌測(cè)量、薄膜應(yīng)力測(cè)量、樣品表面粗糙度/波紋度測(cè)量、以及樣品表面三維形..

詳細(xì)介紹

Dektak150型是Veeco公司2007年正式推出的型探針式表面輪廓儀產(chǎn)品，主要應(yīng)用于薄膜厚度測(cè)量、樣品表面形貌測(cè)量、薄膜應(yīng)力測(cè)量、樣品表面粗糙度/波紋度測(cè)量、以及樣品表面三維形貌測(cè)量等眾多領(lǐng)域。

Dektak 150集四十余年的技術(shù)積累和創(chuàng)新于一身，為滿(mǎn)足用戶(hù)不同應(yīng)用方向的需要提供了多種可選配置。堅(jiān)固的鋁質(zhì)材料鑄成的機(jī)身框架以及支撐部件顯著提高了儀器的重復(fù)精度，并降低了地板噪音對(duì)測(cè)量的干擾?；赪indows XP的Dektak隨機(jī)配備軟件系統(tǒng)界面友好，為用戶(hù)提供了完善的分析功能。“一鍵式”操作方式使得測(cè)量工作簡(jiǎn)單易行。通過(guò)選配三維成像附件套裝還可以極大地?cái)U(kuò)充儀器的功能。

主要特點(diǎn)：

1. 臺(tái)階高度測(cè)量的高重復(fù)性
2. 基于精密加工光學(xué)參考平面的樣品臺(tái)，確保在長(zhǎng)距離掃描中基線的穩(wěn)定性
3. 出色的易用性、易維護(hù)性
4. 樣品適用性
5. 高分辨率的粗糙度測(cè)量
6. 功能強(qiáng)大的軟件分析系統(tǒng)
7. 三維表面形貌測(cè)量的功能可升級(jí)性
8. 廣泛的應(yīng)用領(lǐng)域

關(guān)鍵詞：輪廓儀

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