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X射線熒光分析儀

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產(chǎn)品型號(hào)XGT-1700WR

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更新時(shí)間：2024-02-07 17:52:53瀏覽次數(shù)：208次

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X射線熒光分析儀

X射線熒光光譜儀

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產(chǎn)品簡(jiǎn)介

高效功能和高靈敏度的新產(chǎn)品XGT-1700WR保留了和XGT-1000WR相同的系統(tǒng)，而新光學(xué)系統(tǒng)則提高了靈敏度。XGT-1700WR支持 WEEE/RoHS, ELV 和中國(guó)RoHS。用X-ray成像顯微鏡克進(jìn)行高靈敏度XRF定性和定量分析。XGT-5000WR為WEEE/RoHS, ELV和中國(guó)RoHS特別設(shè)計(jì)，用于5元素(Pb/Cd/Cr/Hg/Br)高靈敏度測(cè)量并帶有X射線顯微鏡功能。

詳細(xì)介紹

XGT-1700WR

分析原理

能量色散X射線熒光分析法

分析元素

Si～U(Cd/Pb高精度型)
Na～U(φ1.2 mm/φ3 mm切換方式型)

檢出下限(Cd/Pd)

Cd≦2 ppm, Pb≦5 ppm Cl≦50ppm

樣品形狀

zui大460×360 mm(高150 mm)

樣品室氣氛

大氣

X射線管

靶材

管電壓

zui大50 kV

管電流

zui大1 mA

X射線照射徑

Φ3 mm
(同時(shí)搭載：φ1.2mm )

檢測(cè)器

高純硅檢測(cè)器 XEROPHY

液氮罐容量

3升

液氮消耗量

每日1升以下(不開(kāi)機(jī)時(shí)不用)

光學(xué)圖像觀察

倍率 50倍(X射線同軸)

軟件

定性分析：自動(dòng)定性或手動(dòng)定性

定量分析：檢量線法

照射直徑3mm時(shí)
基礎(chǔ)參數(shù)法 (1)標(biāo)準(zhǔn)法 (2)1點(diǎn)校正

用戶設(shè)定功能

可以按照用戶事先編好的條件，按照程序自動(dòng)進(jìn)行分析和定量分析

計(jì)算機(jī)

CPU

Pentium IV 1.8 GHz 以上

內(nèi)存

1GB 以上

硬盤

120 GB 以上

Windows XP

監(jiān)視器

17寸 CRT(任選：17寸 LED)

打印機(jī)

彩色噴墨打印機(jī)

周圍溫度

10～35 ℃(性能溫度)/ 5～40 ℃(動(dòng)作溫度)

周圍濕度

5～31 ℃時(shí)溫度范圍：zui大相対濕度80 %以下
31～40 ℃時(shí)溫度范圍：相対濕度50 %以下

電源

AC 100 V、120 V、220 V、240 V ±10 %、50/60 Hz

消耗電力

1.3 kVA 以下(含計(jì)算機(jī)、CRT、打印機(jī))

設(shè)備重量

約 265 kg(不含桌子、計(jì)算機(jī))

外形尺寸

分析單元

610(W)×750(D)×500(H)mm

信號(hào)處理單元

220(W)×500(D)×480(H)mm

關(guān)鍵詞：監(jiān)視器

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