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鉑悅儀器（上海）有限公司
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鉑悅儀器（上海）有限公司
| 參 考 價(jià) | 面議 |
產(chǎn)品型號(hào)MProbe NIR
品 牌
廠商性質(zhì)其他
所 在 地上海市
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更新時(shí)間：2025-05-12 14:21:58瀏覽次數(shù)：39次
聯(lián)系我時(shí)，請(qǐng)告知來自 環(huán)保在線產(chǎn)品描述：采用近紅外光譜(NIR)的測厚儀可以用于測量一些可見光和紫外光無法使用的應(yīng)用領(lǐng)域
采用近紅外光譜(NIR)的測厚儀可以用于測量一些可見光和紫外光無法使用的應(yīng)用領(lǐng)域，比如在可見光范圍內(nèi)有吸收的太陽能薄膜(CIGS, CdTe)可以快速的測量。
測量范圍: 100 nm -200um
波長范圍: 900 nm -2500 nm
適用于實(shí)時(shí)在線測量，多層測量，非均勻涂層, 軟件包含大量材料庫(超過500材料)，新材料可以很容易的添加，支持多重算法：Cauchy, Tauc-Lorentz, Cody-Lorentz, EMA等
測量指標(biāo)：薄膜厚度，光學(xué)常數(shù)
界面友好強(qiáng)大: 一鍵式測量和分析。
實(shí)用的工具：曲線擬合和靈敏度分析，背景和變形校正，連接層和材料，多樣品測量，動(dòng)態(tài)測量和產(chǎn)線批量處理。
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