高壓通常是應用的在橫跨被測試絕緣材料的二個部件之間, 譬如測試設備（EUT）的一次側路（Primary Circuit）和金屬外殼。耐壓測試儀如果絕緣材料在兩個部件之間是足夠的, 那么加在兩個由絕緣體分離的導體之間的大壓只能產生非常小的流流過絕緣體。

雖然這個小流是可接受的, 但是空氣絕緣或固體絕緣不應該發(fā)生擊穿.因此, 需要注意這個流是因為局部放或擊穿的結果, 而不是由于容聯結引起的。另外一個例子是對介于源的一次（Primary）和二次（Secondary）路之間的絕緣材料進行測試。這時所有輸出短接在一起。耐壓測試儀的接地探針與短接在一起的輸出相連, 同時高壓探針與L 和N連接（L和N短接）

耐壓測試儀在hi-pot 測試期間EUT 不工作。必須注意, 在進行型式測試期間, 理想的情況是先加低于規(guī)定的壓的1/2, 然后逐漸上升，并且在10 秒中達到規(guī)定壓，并且維護1 分鐘。然而，大多數測試儀器, 直接輸出規(guī)定壓或使用一個子控制線路來實現壓的爬升。